Li Jiang

蒋力2007年于上海交通大学获得计算机科学与技术学士学位，2013年于香港中文大学计算机科学与工程系获得博士学位。2013年赴美国杜克大学ECE系访问学者。从事芯片设计，设计自动化（EDA），计算机体系结构，基于机器学习算法的芯片及硬件系统性能、可靠性提升等。

从事芯片的，基于机器学习算法的芯片及硬件系统性能、可靠性提升等。在计算机体系结构及芯片设计自动化领域的主流国际会议和期刊，如ISCA、MICRO、DAC、ICCAD、DATE、TCAD、TVLSI等上发表论文近60篇，其中一篇获ICCAD最佳论文提名。据IEEE数字图书馆统计，5篇论文在其会议所收录的所有论文中引用数排前5%（分别为4/330，5/122，3/143，4/328，6/131）。他在MICRO, DATE, ASP-DAC, ITC-Asia, ATS, CFTC, CTC等国际和国家会议中担任联席主席和TPC成员。他是IET Computers & Digital Techniques，Integration the VLSI Journal等国际知名集成电路杂志编委。同时，他还是高等教育出版社人工智能实践系列课程与教材编委会委员。

成果得到业界专家的引用和高度评价，包括中国科学院郑南宁院士，美国工程院William Dally 院士，台积电前CTO Chengming Hu，及多名 ACM/IEEE fellow。3D IC测试架构方面的工作引用达数百次，已被纳入IEEE P1838标准；3D存储器容错架构中的资源共享技术获得上百次引用不仅获得学术界主流认可，而且在台积电落地并联合发表论文；多项技术在业界通过华为、阿里巴巴等企业等产品线测试，及大规模部署试用。

2019年8月，CCF（中国计算机学会）集成电路Early Career Award；

2019年6月，中国图灵大会，ACM上海新星奖；

2015年10月，国际测试会议（ITC），IEEE芯片测试技术委员会E. J. McCluskey Doctoral Thesis Award，亚洲区决赛第一名，总决赛入围奖；

2014年11月，亚洲测试会议（ATS），最佳博士论文奖。